100 P125-d-typ-prüfstifte Mit Breitem Rundkopf Für Elektronische Bauteile

1. Geringer Widerstand: Geringer Widerstand und hohe Stabilität gewährleisten einen engen Kontakt zwischen dem Sondenschaft und der Rohrwand und reduzieren so das Risiko von Stromunterbrechungen. 2. Stabilität: Hoher Durchsatz, niedrige Kontaktimpedanz, stabile Leistung. Ideales Zubehör zum Testen elektronischer Bauteile. 3. Material: Hergestellt aus hochwertigen Materialien, ist dieses Produkt dank eines Sets mit 100 federbelasteten Prüfspitzen langlebig. 4. Langlebigkeit: Die federbelastete Prüfspitze ist unverzichtbar für das Testen von Leiterplatten und bietet optimalen Kontakt sowie hohe Langlebigkeit. 5. Anwendung: Ermöglicht das Testen von Bauteilen auf Leiterplatten. Der konische Kopf eignet sich zum Testen von bedrahteten Bauteilen. Artikeltyp: Prüfspitzen. Modell: P125-D. Material: Messing. Verwendung: Zubehör zum Testen elektronischer Bauteile. Hauptmerkmale: Nadeldurchmesser ca.: 2,02 mm / 0,08 Zoll; Nadeldurchmesser: 1,7 mm / 0,07 Zoll; Gesamtlänge der Nadel: 33,35 mm / 1,3 Zoll; Durchmesser der Nadelhülse: 2,4 mm / 0,09 Zoll. Minimaler Prüfabstand: 3,18 mm / 0,13 Zoll; 100 Prüfspitzen